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阻抗分析仪IM3570

阻抗分析仪,IM3570,IM3570分析仪赛秘尔供

HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

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HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查基本精度±0.08%的高精度测量分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量	LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量	Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
测量量程
显示范围 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
基本精度
测量频率
测量信号电平 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） CC模式（普通模式） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）	普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω	彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
测量时间
测量速度	DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能	EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
电源	拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
电源	330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1